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本文利用Ｓｉ－Ｏ键离解的唯象系统解释稳定开裂速度和动态、静态疲劳现象，其结果具有指数形式并适应于不同大小的缺陷、工作应力和试验环境。而且通过保留指数函数展开式的第一项简化为指数定律。本模型从疲劳的角度，为比较不同光纤的组成、服务环境、应力－时间关系曲线（静态－动态）等提供了合理的物理基础，将该模型应用于石英和掺ＴｉＯ２石英光纤，对有关疲劳的性质进行了深刻的洞察并进一步说明了控制这种行为的基本原理。