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从相干光迭加的普遍原理出发，研究了双层膜系的磁光效应，从理论上导出了双层膜系Kerr角反射率和椭圆率与磁光双层膜和各膜层的光学参数和膜厚的关系表达式。并验证该表达式的正确性。提出利用双层膜系磁光效应的表达式计算磁介质薄膜介电张量矩阵的矩阵元，从而计算磁介质薄膜的光学常数的方法。研究结果表明，该方法能够解决测量介电张量矩阵的矩阵元方面存在的困难。