基于Stokes矢量分析的偏光片光学参数测量

来源 :计测技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:fourseasons2002fox
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目前偏光片透过率的测量方法依赖偏光片的相对转动,受光源偏振度以及探测器偏振响应的影响大,测量精度低.为解决上述问题,本文提出了基于Stokes矢量分析的方法,通过分析入射到偏光片以及从偏光片出射的偏振光的Stokes矢量的改变,结合最优化算法来解析样品的偏振特性,从而快速、精确地测量偏光片的透过率.该方法测量速度快、可扩展性强,对平板显示产业中光学薄膜的偏振特性的测量具有普适性.
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