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[期刊论文] 作者：张兆祥,井藤浩志,
来源：云南大学学报(自然科学版) 年份：1992
利用超高真空扫描隧道显普微镜（UHV-STM）观察请洁Si（100）表面,得到了清洁表面的LEED像和STM像,对STM像做了简单解释...
[期刊论文] 作者：张兆祥,井藤浩志,市川竹男,
来源：半导体学报 年份：1994
本文利用超高真空ＳＴＭ和ＬＥＥＤ装置观察了错切角为０．５°和４．５°的Ｓｉ（１００）微斜面的原子结构，观察到错切角为０．５°时ＳＴＭ像为单原子高度台阶表面结构，错切角为４．５°时ＳＴＭ像为双原子高度台阶结构。......
[期刊论文] 作者：张兆祥,井藤浩志,市ノ川竹男,
来源：真空科学与技术 年份：1993
使用超高真空扫描隧道显微镜(STM)观察了Si(100)面,得到了清洁Si(100)面的STM像。从Chadi模型的形成和表面原子的各向异性扩散分析了STM像的两种类型的台阶棱。Si(100)面的ST...
[期刊论文] 作者：王春梅,井藤浩志,孙洁林,胡钧,沈电洪,一村信吾,
来源：电子显微学报 年份：2007
标准化是当前扫描探针显微镜领域（SPM）的一项重要工作。国际标准化组织ISO自2004年起已经将SPM标准化列入其工作框架之内,并建立了相关的分委员会、技术委员会和工作小组。本文...
[期刊论文] 作者：王春梅,井藤浩志,孙洁林,胡钧,沈电洪,一村信吾,,
来源：电子显微学报 年份：2007
标准化是当前扫描探针显微镜领域(SPM)的一项重要工作。国际标准化组织ISO自2004年起已经将SPM标准化列入其工作框架之内,并建立了相关的分委员会、技术委员会和工作小组。本...
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