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[会议论文] 作者：付新[1]袁俊[2],
来源：2011年全国背散射电子衍射(EBSD)技术学术交流会 年份：2011
通过透射电子显微学方法研究纳米材料内部结构有助于理解界面与缺陷对纳米材料性能的影响。在碳化硼五次孪晶蚋米线体系中。为了缓解5‘角度过剩引起的五次孪晶轴心区域...
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