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[期刊论文] 作者:李庆钊, 张迅达, 叶芳, 李田, 傅思伟,, 来源:数字技术与应用 年份:2019
文章介绍了一种采用X射线数字成像技术对GIS设备中典型缺陷进行检测的手段。对天津某变电站110kV GIS断路器进行X射线无损检测,并提供了一种尺寸测量方法。经过实验对照,证实...
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