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[学位论文] 作者：吴兆希,,
来源：电子科技大学 年份：2018
整机系统的长寿命指标是保障国家安全的前提和基础,为适应国际形势和整机系统应用的要求,整机系统必须具备长期贮存、随时可用和能用的特点,即具备高的可靠性。模拟集成电路...
[期刊论文] 作者：李涛, 吴兆希,,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：2019
针对模拟集成电路在温度循环应力下的封装退化过程进行了研究。设计了对应的加速退化试验,并根据其加速应力模型拟合分析了试验数据,得到了加速退化方程,推算出了日常应用条...
[期刊论文] 作者：蔡建荣,邱忠文,吴兆希,,
来源：电子技术与软件工程 年份：2016
本文介绍了用一种用AD5522微处理芯片设计的光耦集成测试系统,同时根据光耦电参数的特点,结合外围电路,讲解了光耦多种电参数测试的实现方法,用以快速、准确判别光耦电性能。...
[期刊论文] 作者：朱朝轩, 罗俊, 林震, 吴兆希,,
来源：环境技术 年份：2018
基于可靠性强化试验（RET）及其关键技术，对军用电子元器件RET可行性进行了分析。根据RET技术及其特点，分析了军用电子元器件RET的试验应力、试验剖面、测试夹具等关键技术，以阐述军......
[期刊论文] 作者：吴兆希, 韩晓东, 朱恒静, 白璐,,
来源：环境技术 年份：2019
目前“长寿命”已成为航空航天产品的通用要求,而整个系统的长寿命很大程度上取决于电子产品的寿命,Arrhenius模型是使用最为广泛的用于预计电子产品寿命的加速寿命试验方法...
[期刊论文] 作者：朱朝轩,罗俊,林震,吴兆希,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：2018
基于可靠性强化试验的原理和特点,对军用电子元器件的可靠性强化试验的可行性进行了分析。根据可靠性强化试验技术及其特点,分析了军用电子元器件可靠性强化试验的试验应力的...
[期刊论文] 作者：蔡建荣,邱忠文,吴兆希,赵茂霖,,
来源：电子技术与软件工程 年份：2020
本文介绍了一种运用STC单片机来控制继电器阵列,从而实现对多个分立器件或含有多个重复单元的小型集成电路进行测试的测试系统,文中阐述了该系统的组成结构和构建方法,并较为详细的说明了器件的参数的测试原理和测试过程,对解决类似分立器件或集成电路的测试问......
[期刊论文] 作者：吴兆希,李晓红,邓永芳,蔡建荣,杨少华,,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：2016
研究了在不同恒定温度应力条件下某型号驱动器的模拟集成电路的加速退化试验。首先,确定了该型驱动器的敏感参数,并建立了敏感参数的退化模型;然后,计算得到了器件在加速应力...
[期刊论文] 作者：罗俊,刘丹妮,谭骁洪,吴兆希,应广祺,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：2021
可靠性强化试验可以快速地暴露产品存在的潜在缺陷,有助于消除产品薄弱环节和提高可靠性.为了提升国产A/D转换器的质量与可靠性,对A/D转换器的可靠性强化试验方法进行了研究,为了提高试验的效率和有效性,提出了基于失效物理仿真分析的应力因素评价方法,通过器件......
[期刊论文] 作者：吴兆希,罗俊,谭骁洪,唐昭焕,赵茂霖,
来源：微电子学 年份：2020
设计了厚膜电阻的高温贮存试验,以评估厚膜电阻的可靠性.基于阻值的退化数据,采用线性退化模型描述厚膜电阻的退化过程,结果表明,厚膜电阻伪寿命分布满足对数正态分布规律.结...
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