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[会议论文] 作者：程时新,周付斌,何斌,张菊华,
来源：中国电子学会电子元件分会可靠性与质量管理专委会军用电子元件“八五”可靠性研究学术会议 年份：1998
该文以ＣＹ４型印制电路连接器为代表，对ＣＹ型印制电路连接器的失效模式和失效机理进行了系统的分析和研究，并通过一系列工艺改进及对比试验，在实践中对产品进行试验￣分析￣改进，系统的进行了......
[会议论文] 作者：程时新,周付斌,张菊华,何斌,
来源：中国电子学会电子元件分会可靠性与质量管理专委会军用电子元件“八五”可靠性研究学术会议 年份：1998
该文以ＣＹ４型印制电路连接器为代表，对ＣＹ型印制电路连接器的失效模式和失效机理进行了系统的分析和研究，并通过一系列工艺改进及对比试验，在实践中对产品进行试验￣分析￣改进，系统的进行了ＣＹ型印制电路连接器可靠性增长的研究，从而获得了提高印制电路连接器可靠性水平的一些有效......
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