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[期刊论文] 作者：史若桦,黄锡珉,姜岭秀,
来源：液晶通讯 年份：2004
在液晶折射率小于衬底折射率的条件下,利用漏模技术测量液晶的折射率以及液晶盒的厚度。这种技术是利用漏波导的衬底辐射模式,激发的漏模产生从衬底辐射出的m线,将测量的相应...
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