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[期刊论文] 作者：孙铣,
来源：电子质量 年份：2005
文章分析了我国整机企业的元器件测试需求和“小而全”测试体制,以及整机企业在测试系统选型中的一些认识和倾向,比较、分析了选择国产测试系统和进口测试系统,选择中、小型...
[期刊论文] 作者：孙铣,,
来源：中国集成电路 年份：2002
集成电路IC一直是发展最迅速的产业之一。随着计算机技术和半导体技术的飞速发展,IC几乎渗透到了一切领域。现在已无法想象没有IC当今世界将会怎样。...
[期刊论文] 作者：孙铣,,
来源：中国集成电路 年份：2002
文章分析了我国整机企业的元器件测试需求和"小而全"测试体制,以及整机企业在测试系统选型中的一些认识和倾向,比较、分析了选择国产测试系统和进口测试系统,选择中、小型测...
[期刊论文] 作者：孙铣,
来源：世界电子元器件 年份：2000
本文探讨了测试需求和测试成本之间、测试系统和测试体制之间、测试系统和测试技术之间的关系，比较、分析了选择国产测试系统和进口测试系统、选择小型测试系统和中、大型测试......
[期刊论文] 作者：孙铣,
来源：世界产品与技术 年份：2001
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[期刊论文] 作者：孙铣,
来源：世界电子元器件 年份：2000
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[期刊论文] 作者：孙铣,,
来源：中国集成电路 年份：2012
本文介绍了半导体器件热阻的基本概念，讨论了稳态热阻和瞬态热阻的差别，并重点论述了瞬态热阻的测试原理和方法，说明了瞬态热阻测试的技术难点，还对瞬态热阻的测试条件与合格判据......
[期刊论文] 作者：孙铣,,
来源：中国集成电路 年份：2011
本文论述了浮动V／I源和共地V／I源的构造区别，及在开尔文检测和多工位并测方面的差异，论述了浮动V／I源的各种类型和应用优势，并分析了浮动V／I源的共模干扰和与此相关的一些认识误区。......
[期刊论文] 作者：孙铣,
来源：公安大学学报 年份：1994
【正】集团犯罪是社会危害性最严重的一种犯罪形式,它的反社会能量远甚于单独犯罪,历来为刑法打击的重点.近几年来,我国的集团犯罪日趋严重.这不仅表现为量的增加,更重要的是...
[期刊论文] 作者：孙铣,
来源：电子质量 年份：2005
本文分析了微电子器件的发展趋势,论述了微电子器件的测试筛选与质量控制的关系.重点结合了华峰测控的STS 2100系列测试系统介绍了各种微电子器件的相关测试技术,同时也介绍...
[期刊论文] 作者：孙铣,
来源：电子质量 年份：2005
(接上一期)CPU的测试首先要解决测试程序(测试向量),CPU的功能不同于一般通用数字电路,CPU是在软件的介入下进行工作,而用户在使用CPU的时候也都有自己不同的用户程序,所以要...
[期刊论文] 作者：孙铣,
来源：电子质量 年份：2005
(接上一期)3.电压调整器测试技术电压调整器(集成稳压器)由于其优良的性能和简捷的外围电路,而被广泛应用在模拟电源的稳压线路中.如何测准表现其调整能力和稳定性水平的调整...
[期刊论文] 作者：孙铣,,
来源：中国电子商情 年份：2002
全球 IC 发展趋势近年来 IC 的发展呈现如下几个趋势。其一,集成度提高半导体工艺、材料、技术水平的不断提高,在器件上得到的体现首先是集成度的提高,即在单位面积的晶园片...
[期刊论文] 作者：孙铣,,
来源：中国电子商情 年份：2002
IC 测试系统的发展趋势跟随 IC 的发展趋势,用于生产测试和验证测试的 IC 测试系统也得到了很大的发展。分析其发展趋势,可以归纳为以下几个方面:1.测试通道数增加IC 集成度...
[期刊论文] 作者：孙铣,段宁远,
来源：半导体技术 年份：2002
介绍了运算放大器闭环参数的测试原理,分析了影响运算放大器闭环参数测试精度和稳定性的诸多原因和因素,及所采取的针对性措施,还探讨了闭环参数的测试精度、测试稳定性和测...
[期刊论文] 作者：孙铣,孙强,,
来源：电子测试 年份：1998
中小型电子元器件测试系统在我国经历了引进、仿制发展到消化国外产品独立研制的过程。本文结合STS 2100系列产品探讨了测试系统的系统构成、硬件结构和软件系统的形式及特点...
[会议论文] 作者：孙铣,孙建明,
来源：中国集成电路测试学术年会 年份：1990
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[期刊论文] 作者：曹文聪,杨学忠,孙铣石,
来源：大学出版 年份：1995
“全国建材院校教材信息协作网”：开拓市场、扩大发行的有效途径曹文聪，杨学忠，孙铣石“全国建材院校教材信息协作网”（以下简称“协作网”）是在国家建材局教材办公室领导下，为促进......
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