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[期刊论文] 作者:孟江霞, 来源:城市建设理论研究(电子版 年份:2017
[期刊论文] 作者:孟江霞,时万春, 来源:国外电子测量技术 年份:1999
本文综述了功能测试和BIST等芯片测试实践与其与MCM测试的关联,并分析了上述技术运用于MCM测试的不足。文章还总结了在线测试和边界扫描等板测试策略,并讨论了板测试技术运用于MCM测试的可取......
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