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[学位论文] 作者：宋辰昱,
来源：大连理工大学 年份：2021
CMOS图像传感器（CMOS image sensor,CIS）因具有低成本,低功耗,集成度高等优点而广泛应用于生产生活中。随着其应用范围不断扩大,在太空,医疗,核能等领域,辐射引起的器件老化备受关注。总剂量效应是一种因电子器件长期受到高能辐射而出现的老化效应,器件的电学参数......
[期刊论文] 作者：宋辰昱,申人升,曲杨,刘岩,常玉春,,
来源：半导体光电 年份：2021
钳位电压(Vpin)是影响CMOS图像传感器(CIS)中钳位光电二极管(PPD)电荷转移效率和满阱电荷容量的关键物理量。在辐照条件下,V_(pin)受辐射总剂量(TID)增加而升高,因此研究其机理对抗辐照CIS的设计有重要意义。文章利用TCAD仿真软件分析了CIS器件的电学特性,研究......
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