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[会议论文] 作者：张跃飞[1]李玉洁[1]王振宇[1]韩晓东[1]张泽[2],
来源：2013年全国电子显微学学术会议 年份：2013
本实验利用JEOL2010型透射电子显微镜和Nanofactory电学性能测试样品杆，在透射电镜中搭建原位锂化平台，通过加载偏压来实现ZnO纳米线的原位铿化过程，并对ZnO纳米电极材料锂化过...
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