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[期刊论文] 作者：王洪祥,李成福,朱本温,王景贺,,
来源：强激光与粒子束 年份：2014
在磨削、研磨和抛光加工过程中产生的微裂纹、划痕、残余应力等亚表面缺陷会导致熔石英元件抗激光损伤能力下降,如何快速、准确地检测亚表面损伤成为光学领域亟待解决的关键...
[期刊论文] 作者：侯晶, 王洪祥, 王储, 王景贺, 朱本温,,
来源：哈尔滨工业大学学报 年份：2018
为了实现光学元件亚表面损伤的低成本、快速、准确检测,提出一种光学元件亚表面损伤深度无损荧光检测方法.在研磨和抛光加工过程中添加纳米荧光量子点溶液作为标记物,量子点...
[期刊论文] 作者：王洪祥,侯晶,严志龙,朱本温,陈贤华,,
来源：哈尔滨工业大学学报 年份：2015
为解决传统检测方法无法直接定量检测非晶体熔石英玻璃表面残余应力的问题,基于脆性固体断裂力学理论,推导残余应力的理论计算公式,提出光学元件抛光加工表面残余应力计算新...
[期刊论文] 作者：王洪祥,朱本温,王景贺,侯晶,陈贤华,
来源：材料科学与工艺 年份：2015
亚表面缺陷的准确检测是进行亚表面损伤研究的前提和基础,对保证光学元件加工质量至关重要.基于HF酸化学蚀刻法对熔石英元件抛光加工产生的亚表面水解层、缺陷层深度和亚表面...
[期刊论文] 作者：王洪祥,朱本温,陈贤华,侯晶,王景贺,,
来源：强激光与粒子束 年份：2015
根据工件与抛光盘的相对运动关系及熔石英元件抛光加工材料去除模型,系统分析了转速比和偏心距等参数对材料去除函数的影响。通过理论分析和抛光加工实验,研究了不同工艺参数...
[期刊论文] 作者：王洪祥,侯晶,王景贺,朱本温,张彦虎,
来源：中南大学学报：英文版 年份：2018
本文利用纳米级荧光量子点对光学元件亚表面缺陷进行标记,采用共聚焦荧光显微镜对聚焦表面进行逐层扫描,得到被测样品不同深度处的切片图像.通过特征点荧光强度的变化,定量表...
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