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[期刊论文] 作者：农姗珊,杨斯媚,粟涛,
来源：微电子学 年份：2020
当前CMOS数字芯片设计流程缺少对电路电磁抗扰性的检验.大幅电磁干扰会导致数字电路出现电路失效,但电路失效的原因以及电路失效与幅度和频率等干扰参数的关系尚不清楚.针对...
[期刊论文] 作者：罗岚, 杨斯媚, 陈弟虎, 粟涛,,
来源：微电子学 年份：2004
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