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[期刊论文] 作者：王明虎,林大俊,杨依忠,梁齐,
来源：现代电子技术 年份：2004
随着工艺尺寸的缩小,IC设计的两大趋势是设计更复杂和对产品的设计周期要求更苛刻.在超深亚微米IC设计中,设计的复杂性会导致SI(信号完整性)问题更加突出,从而会影响整个产品...
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