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[学位论文] 作者：祝沈财,,
来源：合肥工业大学 年份：2008
超大规模集成电路已经展到了深亚微米系统芯片阶段。随着生产工艺的改进,电路的集成度还在不断的提高。由于超大规模集成电路晶体管个数和密度的增加,测试这样的电路面临许多...
[期刊论文] 作者：梁华国,祝沈财,陈田,张念,,
来源：电子学报 年份：2008
大规模高密度的集成电路在测试中遇到了测试数据量大，测试时间长等问题。对此，本文提出了一种带有折叠集的完全测试方案。该方案利用RAS（Random access scan）结构控制经输入精简...
[期刊论文] 作者：张念,梁华国,祝沈财,叶益群,
来源：合肥工业大学学报：自然科学版 年份：2008
文章提出了一种基于分组共享种子和位翻转的测试数据压缩方法。该方法根据测试集生成的特点，将确定位处于相同位置的测试向量分为一类，并将每类确定位不同处无关位化，合并得到每......
[期刊论文] 作者：祝沈财,蒋翠云,梁华国,叶益群,张念,,
来源：计算机应用 年份：2007
提出了一种利用折叠计数器特点,基于完全测试集的低功耗测试方案。方案先用几个相关性很好的折叠集测试电路中大部分的故障,然后直接翻转扫描单元中的数据得到剩余故障的测试向量。在硬件上,采用一个地址计数器和随机访问扫描(RAS)结构相结合实现了并行的折叠控......
[期刊论文] 作者：叶益群,梁华国,祝沈财,张念,詹凯华,,
来源：计算机应用 年份：2007
提出了一种称为分组频率Golomb码的测试数据压缩方法。方案针对测试集中游程长度分布的不均匀性,重新构建Golomb码的前缀码,用短码字来编码包含游程长度多的分组。同时,在差分过程中,通过给无关位合理赋值来减少测试集中"1"的个数,从而减少了游程的数目。实验结......
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