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[期刊论文] 作者：荣炳麟,
来源：固体电子学研究与进展 年份：1987
随着GaAs MESFET噪声性能的改善,低噪声FET放大器的性能也大幅度提高。目前,4GHz频段、60—70K低噪声FET放大器已商品化,主要的研究方向是进一步改善放大器的噪声性能。 除了...
[会议论文] 作者：荣炳麟,
来源：′94全国第五届MIC电路及工艺会议 年份：1994
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[期刊论文] 作者：荣炳麟,
来源：固体电子学研究与进展 年份：2004
11.70～12.20千兆赫参量放大器是为卫星直播电视地面接收站研制的低噪声高放部件.作为边缘低场强地区接收系统低噪声高放部件的单级参放,必须在保证接收带宽的前提下,提供较高...
[期刊论文] 作者：荣炳麟,施恩泽,
来源：固体电子学研究与进展 年份：1990
南京电子器件研究所利用本所研制的WC592型功率场效应管和WB64型超突变结变容管,研制成WZB852型4-8GHz场效应管压控振荡器.振荡器采用了当前中、大功率场效应管振荡器常用的...
[期刊论文] 作者：来萍,张晓明,荣炳麟,冯敬东,范国华,金毓铨,,
来源：半导体技术 年份：2007
为开展微波功率器件动态加速寿命试验，建立了一套由计算机实时监测的微波动态试验系统。采用微带电路剥离以及加热部件与其他电路的隔热连接等方法，实现了对每个器件进行独立的......
[会议论文] 作者：来萍,冯敬东,张哓明,荣炳麟,范国华,金毓铨,
来源：第四届电子产品可靠性与环境试验技术经验交流会 年份：2003
针对微波功率器件,建立了一套动态试验系统,采用每个器件独立的内腔式加热技术,研制了6个工位的试验台硬件系统,编制了计算机实时监测软件....
[会议论文] 作者：范国华,金毓铨,荣炳麟,冯敬东,来萍,杨宝生,
来源：中国电子学会可靠性分会第十届学术年会 年份：2000
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[会议论文] 作者：来萍,范国华,张晓明,金毓铨,荣炳麟,冯敬东,
来源：第九届全国可靠性物理学术讨论会 年份：2001
介绍了某型号S波段微波功率器件在动态加速寿命试验中的主要失效模式,分析了失效机理.从失效样品的参数测试结果及解剖分析看,造成器件的主要失效机理是:金属化电极尤其是发射极在电流和温度的共同作用下发生的电迁移失效.这是影响微波功率器件长期工作寿命的主......
[会议论文] 作者：来萍,荣炳麟,冯敬东,范国华,金毓铨,张哓明,
来源：第四届电子产品可靠性与环境试验技术经验交流会 年份：2003
针对微波功率器件,建立了一套动态试验系统,采用每个器件独立的内腔式加热技术,研制了6个工位的试验台硬件系统,编制了计算机实时监测软件....
[期刊论文] 作者：来萍,荣炳麟,冯敬东,范国华,金毓铨,钟志新,张晓明,
来源：固体电子学研究与进展 年份：2001
介绍了对微波功率器件开展的动态加速寿命试验方法和技术的研究。主要阐述了实现振荡式微波动态寿命试验的方法，以及不同于常规的对受试功率器件进行内部式加热控温的技术研究......
[会议论文] 作者：范国华,信息产业部电子5所,金毓铨,荣炳麟,来萍,冯进东,扬宝生,王瑞曾,田明均,徐进,
来源：第九届全国可靠性物理学术讨论会 年份：2001
本试验是对微波器件工作状态可靠性评价技术的探索,采用了与器件微波工作状态一致的试验技术,简化了试验设备,提高了设备可靠性....
[会议论文] 作者：范国华,信息产业部电子5所,金毓铨,信息产业部电子5所,荣炳麟,信息产业部电子5所,来萍,信息产业部电子5所,冯进东,信息产业部电子5所,扬宝生,信息产业部电子5所,王瑞曾,信息产业部电子5所,田明均,,
来源：第九届全国可靠性物理学术讨论会 年份：2001
本试验是对微波器件工作状态可靠性评价技术的探索,采用了与器件微波工作状态一致的试验技术,简化了试验设备,提高了设备可靠性....
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