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[期刊论文] 作者：来萍,郑廷圭,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：2002
介绍了对一种进口微波放大器在静态条件下产生自激振荡的原因进行分析的案例。在保证不破坏原有现象和尽量保证样品完整性的前提下，采用各种技术手段，成功地进行了分析定位。确......
[会议论文] 作者：罗宏伟,郑廷圭,
来源：第八届全国可靠性物理学术讨论会 年份：1999
本文通过对MAL100A光电晶体管的失效分析，弄清了该器件的失效模式和失效机理，并提出了相应的改进措施。...
[会议论文] 作者：易德兴,郑廷圭,
来源：中国电子学会可靠性分会第九届学术年会 年份：1998
对国产军用振荡器、滤波器在工程配套应用或检测试验过程中出现的数批失效样品进行了失效原因分析，该文介绍了几批典型军用振荡器和滤波器的失效分析结果，综合分析不同品种振荡器和滤波器的失效原因，发现国产军用晶体器件存在着结构设计不良、元器件选择、安装不当......
[期刊论文] 作者：李萍, 来萍, 郑廷圭,,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：2006
阐述了双极型微波功率晶体管的主要失效模式及失效机理，重点分析了热应力导致的失效，介绍了两个典型的失效分析案例．并提出相应的筛选措施。...
[期刊论文] 作者：徐爱斌,郑廷圭,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：2005
通过一个电子辞典用PCB腐蚀失效的分析案例,介绍了PCB的失效现象、分析过程和分析技术,阐述了其失效机理,并提出了相应的改进措施....
[期刊论文] 作者：来萍,李萍,郑廷圭,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：2004
介绍了对一进口梳状:谐波发生器功能失效样品进行分析的案例.分析结果表明,失效原因是导电胶粘接导致的键合失效,这也是目前国内微波模块中最常见的失效原因之一.通过对失效...
[期刊论文] 作者：郑廷圭,李少平,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：1997
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[期刊论文] 作者：徐爱斌,郑廷圭,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：1999
国产Ａ／Ｄ（模／数）Ｄ／Ａ（数／模）转换器是重点电子产品，属大规模集成电路。我国军用和重点工程对Ａ／Ｄ，Ｄ／Ａ的需求很大，而目前高位数和高精度的该类产品主要仍靠进口。本文通过研究其失效模式和失效机理，可暴......
[期刊论文] 作者：徐爱斌,郑廷圭,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：1996
1 前言电参数漂移、超差或退化是半导体器件常见的失效模式。这类失效会导致产品合格率不高;使得成品器件档次下降;更严重的是还会影响整机的寿命和可靠性.引起这类失效...
[期刊论文] 作者：王群勇,郑廷圭,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：1993
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[期刊论文] 作者：陈三廷,郑廷圭,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：1994
1 引言 众所周知,内部水汽含量过高是导致铝金属化腐蚀(即长“白毛”)失效的主要原因。为了确保器件的可靠性,必须对器件的内部水汽含量指标进行严格考核。为此,必须有...
[期刊论文] 作者：徐爱斌,郑廷圭,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：1990
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[期刊论文] 作者：来萍,李萍,郑廷圭,
来源：电子质量 年份：2003
本文介绍了对AS169型微波开关电路进行的失效分析.采用了直流测试、射频测试、样品解剖、芯片观察、电路分析以及实验验证等一系列技术手段,成功地确定了样品的失效原因是在...
[会议论文] 作者：林晓玲,郑廷圭,
来源：中国电子学会可靠性分会第十三届学术年会 年份：2006
本文介绍了Au-Al键合系统的失效机理及其对器件可靠性的影响,并以具体实例说明了Au-Al键合系统生成金铝间化合物和Kirkendall(柯肯德尔)空洞导致器件失效,最后,提出了相应的...
[会议论文] 作者：徐爱斌,郑廷圭,
来源：中国电子学会可靠性分会第八届学术年会 年份：1996
电子部五所研究分析中心通过对ＤＣ－ＤＣ电源变换器厚膜功率模块评审过程的失效分析，准确找到了与ＤＣ－ＤＣ设计，工艺相关的存在问题和薄弱环节，并进行了对策研究，提出了７条改进措施。......
[会议论文] 作者：徐爱斌,郑廷圭,
来源：中国电子学会可靠性分会第九届学术年会 年份：1998
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[会议论文] 作者：郑廷圭,徐爱斌,
来源：第七届全国可靠性物理学术讨论会 年份：1997
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[会议论文] 作者：林晓玲,郑廷圭,
来源：第7届国际可靠性、维修性、安全性学术会议(The Seventh International Conference on 年份：2007
本文介绍了Au－Al键合系统的失效机理及其对器件可靠性的影响,并以具体实例说明了Au－Al键合系统生成金铝间化合物和Kirkendall(柯肯德尔)空洞导致器件失效,最后,提出了相应的预...
[会议论文] 作者：徐爱斌,郑廷圭,
来源：中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会 年份：2004
本文通过对某型号"快译通"产品用印制电路版(PCB板)进行表观分析和破坏性分析,找出了PCB板腐蚀失效的原因,并提出了改进措施和建议....
[会议论文] 作者：黄云;来萍;郑廷圭;,
来源：中国电子学会可靠性分会第十届学术年会 年份：2000
该文通过对S波段四位PIN数字移相器的失效分析，确定了导电胶涂覆后再电镀金层的接地孔金属化工艺使导电层的粘附性和均匀性差，在外部应力变化或内应力释放作用下导致开路或退化......
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