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[期刊论文] 作者:郭广饶,李大海,鄂可伟,李萌阳,陈海平,, 来源:光学与光电技术 年份:2016
子孔径拼接方法在大口径光学元件检测中发挥着重要的作用,关于子孔径拼接精度研究也受到广泛重视。子孔径斜率数据可由哈特曼探测器测得,被测光学元件上每个子孔径上的斜率数...
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