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[期刊论文] 作者：赵冰清, 解伟, 李文涛, 顾岳峰, 冯体艳,,
来源：河南科技 年份：2018
本文通过对片式多层陶瓷电容器失效原因进行模拟、验证,总结出片式多层陶瓷电容器的各种失效机理,并将其失效机理应用于过程排查,从而锁定产生不良的最终原因,进而消除隐患,...
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