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[会议论文] 作者：于化丛, 崔容强, 顾江敏, 周之斌, 杨宏, 王鹤, 孟凡,
来源： 年份：2004
采用PECVD法沉积制得nc-Si:H薄膜,用Nicolet Nexus 870傅立叶透射谱仪测量了它的透射谱,通过计算得到了样品的吸收谱,采用线性外推法得到了样品的光学带隙。引用该实验的数据...
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