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[期刊论文] 作者：BruceW.Wessels,罗宗铁,
来源：国外发光与电光 年份：1977
阻碍发光二极管材料性能改进的问题之一是缺少适宜的检测和显示无辐射缺陷中心的手段。在性能好的材料中,由于缺陷密度一般都低于10~(16)cm~3,使检测更为困难。本文将热激电...
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