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[期刊论文] 作者：谢荣厚,C.Nieuweahwiger,
来源：光谱学与光谱分析 年份：1985
众所周知高合金钢的X射线荧光光谱分析的准确度,在很大程度上取决于基体影响的校正,而大分析范围的基体校准方法虽然很多,但是各有其优缺点。De Jongh模式的优点,可以采用理...
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