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[期刊论文] 作者：王天兴,魏红祥,任聪,韩秀峰,Clifford E,Lang,
来源：半导体学报 年份：2006
提供了一种用于安德鲁反射测量样品制备新方法．该方法采用聚焦粒子束刻蚀和磁控溅射，可以获得可控的、干净的、无应力的纳米接触用于自旋极化探测．所制备的样品中，磁性和非磁性材......
[期刊论文] 作者：王天兴,魏红祥,任聪,韩秀峰,Clifford E,Lang,
来源：半导体学报 年份：2006
提供了一种用于安德鲁反射测量样品制备新方法.该方法采用聚焦粒子束刻蚀和磁控溅射,可以获得可控的、干净的、无应力的纳米接触用于自旋极化探测.所制备的样品中,磁性和非磁...
[期刊论文] 作者：王天兴,魏红祥,任聪,韩秀峰,Clifford E,Langford R M,Bari M A,Coey J M D,,
来源：半导体学报 年份：2006
提供了一种用于安德鲁反射测量样品制备新方法.该方法采用聚焦粒子束刻蚀和磁控溅射,可以获得可控的、干净的、无应力的纳米接触用于自旋极化探测.所制备的样品中,磁性和非磁...
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