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[期刊论文] 作者：D.C.Bossen,俞书良,
来源：计算机工程 年份：1982
高密度及高性能存储器芯片的设计经常会产生一些新的可靠性问题;例如,高密度RAM和CCD芯片的α粒子问题便是一个很好的例子,α粒子引起的软错误会与已经存在的硬错误联结在一...
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