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[会议论文] 作者:W.Li,F.Yang,J.M.Hu, 来源:第35届国际光谱会议(The Colloquium Spectroscopicum Internationale XXX 年份:2007
[会议论文] 作者:W.Li,F.Yang,J.M.Hu, 来源:第35届国际光谱会议(The Colloquium Spectroscopicum Internationale XXX 年份:2007
[期刊论文] 作者:D.M.Xie,J.M.Hu,J.M.Wang,J.Q.Zhang, 来源:金属学报(英文版) 年份:2002
This paper discussed the possibility of obtaining electrochemical impedance spec-troscopy (EIS) responses of zinc rich paints (ZRP) using serial double-cell (SD...
[期刊论文] 作者:J.M.Hu,D.Barker,李世明, 来源:电子产品可靠性与环境试验 年份:1995
就正常使用条件下出现的某些主要失效机理而论,加速寿命试验技术提供了一种研究电子元器件可靠性的简便方法.淡而,加速试验经常是在不知道失效机理,以及不保证被试验所加速的...
[会议论文] 作者:W.Xie,A.G.Shen,S.S.Tan,X.H.Wang,J.M.Hu, 来源:第35届国际光谱会议(The Colloquium Spectroscopicum Internationale XXX 年份:2007
[会议论文] 作者:J.Shen,A.G.Shen,L.Fan,X.H.Wang,J.M.Hu, 来源:第35届国际光谱会议(The Colloquium Spectroscopicum Internationale XXX 年份:2007
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