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[期刊论文] 作者:Jia Ren-Xu,Zhang Yu-Ming,Zhang Yi-Men, 来源:中国物理B(英文版) 年份:2010
[期刊论文] 作者:Jia Ren-Xu,Yan Hong-Li,Liu Wen-Jun,Lei Ming, 来源:中国物理B(英文版) 年份:2014
[期刊论文] 作者:Wang Yue-Hu,Zhang Yi-Men,Zhang Yu-Ming,Song Qing-Wen,Jia Ren-Xu, 来源:中国物理B(英文版) 年份:2011
[期刊论文] 作者:Wang Yue-Hu,Zhang Yi-Men,Zhang Yu-Ming,Zhang Lin,Jia Ren-Xu,Chen Da, 来源:中国物理B(英文版) 年份:2010
[期刊论文] 作者:Jia Ren-Xu,Dong Lin-Peng,Niu Ying-Xi,Li Cheng-Zhan,Song Qing-Wen,Tang Xiao-Yan,Yang Fei, 来源:中国物理B(英文版) 年份:2015
[期刊论文] 作者:Tang Xiao-Yan,Song Qing-Wen,Zhang Yu-Ming,Zhang Yi-Men,Jia Ren-Xu,Lü Hong-Liang,Wang Yue-Hu, 来源:中国物理B(英文版) 年份:2012
Atomic layer deposited (ALD) Al2O3/dry-oxidized ultrathin SiO2 films as a high-k gate dielectric grown on 8° off-axis 4H-SiC (0001) epitaxial wafers are invest...
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