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[期刊论文] 作者:Jia Ren-Xu,Zhang Yu-Ming,Zhang Yi-Men,
来源:中国物理B(英文版) 年份:2010
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[期刊论文] 作者:Jia Ren-Xu,Yan Hong-Li,Liu Wen-Jun,Lei Ming,
来源:中国物理B(英文版) 年份:2014
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[期刊论文] 作者:Wang Yue-Hu,Zhang Yi-Men,Zhang Yu-Ming,Song Qing-Wen,Jia Ren-Xu,
来源:中国物理B(英文版) 年份:2011
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,SiC epitaxial layers grown by chemical vapour deposition and the fabrication of Schottky barrier di
[期刊论文] 作者:Wang Yue-Hu,Zhang Yi-Men,Zhang Yu-Ming,Zhang Lin,Jia Ren-Xu,Chen Da,
来源:中国物理B(英文版) 年份:2010
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[期刊论文] 作者:Jia Ren-Xu,Dong Lin-Peng,Niu Ying-Xi,Li Cheng-Zhan,Song Qing-Wen,Tang Xiao-Yan,Yang Fei,
来源:中国物理B(英文版) 年份:2015
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,Investigation of a 4H-SiC metal-insulation-semiconductor structure with an Al2O3/SiO2 stacked diele
[期刊论文] 作者:Tang Xiao-Yan,Song Qing-Wen,Zhang Yu-Ming,Zhang Yi-Men,Jia Ren-Xu,Lü Hong-Liang,Wang Yue-Hu,
来源:中国物理B(英文版) 年份:2012
Atomic layer deposited (ALD) Al2O3/dry-oxidized ultrathin SiO2 films as a high-k gate dielectric grown on 8° off-axis 4H-SiC (0001) epitaxial wafers are invest...
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