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[期刊论文] 作者：M.Forbes,翟丽,等,
来源：光学精密机械 年份：2002
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[期刊论文] 作者：M.Forbes,聂慧君,,
来源：半导体情报 年份：1987
可靠性,失效率和平均失效间隔(MTBF)的概念常常被误解和滥用。它们之间虽有联系,然而每一概念都代表着器件工作寿命的不同方面;总的说来,它们能帮助预测一批器件在某一段时间...
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