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[期刊论文] 作者：Steve Sharp,,
来源：电子测试 年份：2005
随着芯片技术进入90nm及更先进的工艺境界，功耗日渐成为系统设计的棘手问题。在此工艺节点上，泄漏在总功耗中的比例更大一些，较小的互连结构以及新型介电材料也会影响动态功耗。......
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