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[会议论文] 作者：Terutaka Tamai,Shigem Sawada,Yasuhiro Hattori,
来源：2009第三届电工产品可靠性与电接触国际会议 年份：2009
本文分析了镀锡和软金属触头性能对接触电阻和接触压力关系的影响。在不到0.1N(10gf)接触压力下，接触电阻值偏离了理论的收缩电阻值。这种偏差是由触头表面的氧化膜引起的。诸...
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