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,The Effect of Oxygen Partial Pressure during Active Layer Deposition on Bias Stability of a-InGaZnO
[期刊论文] 作者：HUANG Xiao-Ming,WU Chen-Fei,LU Hai,REN Fang-Fang,ZHU Hong-Bo,WANG Yong-Jin,
来源：中国物理快报（英文版） 年份：2015
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[期刊论文] 作者：HUANG Xiao-Ming,WU Chen-Fei,LU Hai,XU Qing-Yu,ZHANG Rong,ZHENG You-Dou,
来源：中国物理快报（英文版） 年份：2012
The impact of interfacial trap states on the stability of amorphous indium-gallium-zinc oxide thin film transistors is studied under positive gate bias stress.W...
[期刊论文] 作者：YU Guang,WU Chen-Fei,LU Hai,REN Fang-Fang,ZHANG Rong,ZHENG You-Dou,HUANG Xiao-Ming,
来源：中国物理快报（英文版） 年份：2015
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,Temperature-dependent bias-stress-induced electrical instability of amorphous indium-gallium-zinc-o
[期刊论文] 作者：Qian Hui-Min,Yu Guang,Lu Hai,Wu Chen-Fei,Tang Lan-Feng,Zhou Dong,Ren Fang-Fang,
来源：中国物理B（英文版） 年份：2015
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,Influence of white light illumination on the performance of a-IGZO thin film transistor under posit
[期刊论文] 作者：Tang Lan-Feng,Yu Guang,Lu Hai,Wu Chen-Fei,Qian Hui-Min,Zhou Dong,Zhang Rong,
来源：中国物理B（英文版） 年份：2015
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