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[期刊论文] 作者：陈泽民,张雪梅,唐国有,张国辉,Yd Gledenov,G.,
来源：核电子学与探测技术 年份：1999
在测量快中子(n,p)反应的实验中,同样利用屏栅电离室测得聚乙烯薄膜反冲质子的能谱,并利用蒙特-卡罗方法对其进行校正,从而得到中子的绝对注量率.将其结果与238U测得的结果进...
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