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[期刊论文] 作者：Yu Jie,Bai Xin,Zhang Zhao-Xiang,Zhang Geng-Min,Guo Deng-Zhu,Xue Zeng-Quan,
来源：中国物理（英文版） 年份：2006
The low-energy electron point source (LEEPS) microscope, which creates enlarged projection images with lowenergy field emission electron beams, can be used to o...
[期刊论文] 作者：Bai Xin,Zhang Geng-Min,Wang Ming-Sheng,Zhang Zhao-Xiang,Yu Jie,Zhao Xing-Yu,Guo Deng-Zhu,Xue Zeng-Quan,
来源：中国物理B（英文版） 年份：2009
...
[期刊论文] 作者：Zhang Zhao-Xiang(张兆祥),Zhang Geng-Min(张耿民),Du Min(杜民),Jin Xin-Xi(金新喜),Hou Shi-Min(侯士敏),Sun Jian-Ping(孙建平,
来源：中国物理（英文版） 年份：2002
Field-ion microscopy (FIM), a tool for surface analysis with atomic resolution, has been employed to observethe end structure of single-walled carbon nanotubes...
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