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[期刊论文] 作者：srigOtesjo BarryOdbert,
来源：电子电路与贴装 年份：2004
本文介绍．对于许多板来说，由于不适当的可测试性设计(DFT．design for testability)而失去对关键节点的探测可能完全地毁坏缺陷覆盖率。...
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