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二维工件相关论文

用光纤半圆阵列测量准二维工件表面粗糙度参数的仿真研究

提出了一种反散射计算的简单、快速方法,用于用光纤半圆阵列的光散射技术测量准二维工件表面的粗糙度参数。这些参数包括高度特性......

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表面粗糙度参数仿真二维工件 Optical fiber semicircular array Inverse scattering calculatio

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