采用质子激发Ｘ射线（ＰＩＸＥ）分析技术，以能量为２．０ＭｅＶ的质子束为激发源，利用单元四极磁透镜对带电粒子束的单向聚束本领，对超导材料样品ＣａＳｒ２Ｂｉ２Ｃｕ２Ｏ８进行了扫描ＰＩＸＥ分析......

采用质子激发X射线(PIXE)分析技术,以能量为2.0 MeV的质子束为激发源,利用单元四极磁透镜对带电粒子束的单向聚束本领,对超导材料......

采用质子激发Ｘ射线（ＰＩＸＥ）分析技术，以能量为２．０ＭｅＶ的质子束为激发源，利用单元四极磁透镜对带电粒子束的单向聚束本领，对超导材料样品ＣａＳｒ２Ｂｉ２Ｃｕ２Ｏ８进行了扫描ＰＩＸＥ分析......