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时分复用芯片相关论文

边界扫描测试电路的设计

讨论了边界扫描测试电路的设计方法和电路的基本结构,并针对光纤通信系统中的32:1时分复用芯片设计了边界扫描电路,给出了模拟结果......

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边界扫描测试电路设计方法光纤通信时分复用芯片板级测试 IEEE标准1149.1 Boundary-scan test Board level test

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