时延故障相关论文
由于散热、工艺等的限制，单个处理器核的性能已经难以大幅提升;而功耗的限制又带来暗硅问题，即芯片上不是所有的电路都可以同时运行......
当今，科学技术迅猛发展，集成电路设计工艺不断提高，高速电路中互连结构的信号完整性(SignalIntegrity,SI)问题日趋严重。如今PCB板总......
随着集成电路工艺特征尺寸的缩小，系统芯片复杂度及工作频率的提高，传统的可测性设计方案已不能满足量产测试需求，这在检测与时序相关......
随着 FPGA 器件的应用越来越广泛，FPGA 的测试和故障诊断技术得到了广泛重视和研究。 FPGA 的时延故障是 FPGA 内部故障中非常重要......
为探究吕家坨井田地质构造格局,根据钻孔勘探资料,采用分形理论和趋势面分析方法,研究了井田7......
瞬态电流测试（IDDT Testing）作为传统电压测试和稳态电流测试（IDDQ Testing）方法的一个补充，越来越受到研究领域和工业界的关注。针对不......
FPGA市场已经进入极速发展时代，不同的销售商已向市场投入更多更快的FPGA器件。随着FPGA器件的迅速发展，FP-GA的密度和复杂程度也越......
时延故障的内建自测试通常需要施加测试向量对，包括多跳变向量与单跳变向量。理论与实践表明，单跳变向量比多跳变向量具有更高的强健......
与时延测试相比，时延故障诊断需要更精确的故障模型。该文提出了采用精确测量的时延模型和时延故障模型。在这种模型下，利用电路通路......
探讨了一种串扰时延最大化算法,并且利用被修改的FAN算法,生成测试矢量.对于一条敏化通路,利用被修改的FAN算法适当地激活相应的攻......
随着科学技术的不断发展和进步,自动化技术在生产生活领域中所起的作用愈加显著,而这其中的远动通信技术更是给人们的日常生活和生......
对时延故障测试提出了一种采用累加器实现测试序列生成的方案。该方案通过对累加器作可测性设计，并复用其硬件电路，所生成的测试序列......
串扰的出现可能会导致电路出现逻辑错误和时延故障 因此 ,超深亚微米工艺下 ,在设计验证、测试阶段需要对串扰问题给予认真对待 ......
随着深亚微米技术，串扰噪声问题越来越严重。利用MAF模型的基本思想，探讨了一种串扰时延最大化算法，并且利用被修改的FAN算法，生成测试......
随着FPGA器件的应用越来越广泛,FPGA的测试和故障诊断技术得到了广泛重视和研究。FPGA的时延故障是FPGA内部故障中非常重要的一类......
