时延故障测试相关论文
阵列乘法器因高度集成和高速运行,容易受到时延故障的困扰.该文对阵列乘法器的通路时延故障提出了一种用累加器实现的以单跳变序列......
针对现代VLSI电路趋向于层次化的设计,本文提出了基于布尔可满足性的层次化通路时延故障测试方法,采用面向模块级的增量布尔可满足......
时延故障对高速运算电路性能有着关键性的影响，本文对其中之一的并行前置树型加法器的通路时延故障测试作了研究。在分析其结构特点......
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为了避免时延故障测试因额外测试器插入导致过高的硬件成本和性能降低,本文提出了一种内建自测试测试向量生成器设计。该方案通过......
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本文研究了算术运算电路的通路时延故障测试。半导体技术的高速发展使得电路集成度和运行速率大增,相应的时延故障测试需求也变得......
多年来,集成电路测试是制约我国集成电路工业的“瓶颈”。在半导体技术工艺跨入深亚微米甚至纳米时代的今天,仅仅基于固定型故障的......
