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采用有限差分法等方法研究了晶硅材料体内不同类型缺陷对晶硅电池暗Ⅰ-Ⅴ特性的影响.研究表明:晶硅电池暗Ⅰ-Ⅴ特性的自然对数曲线......
暗Ⅰ-Ⅴ特性曲线是一种有效监测晶硅电池内部杂质和缺陷性质的表征手段。本文利用有限差分法较系统地研究了杂质和缺陷性质对暗Ⅰ-......
利用有限差分法求解半导体器件基本方程的方法,通过改变栅线电极和衬底掺杂浓度,研究了织构结构和非对称电极对晶硅电池暗Ⅰ~Ⅴ特性......