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检测D立方相关论文

用电路的逻辑覆盖产生测试码的算法

基于逻辑电路的单固定故障模型和逻辑函数质蕴涵的特点，定义了两种交运算，并讨论了利用元件的最小０覆盖和１覆盖求交运算产生电路测试和......

期刊

交运算检测D立方检测集逻辑函数逻辑电路电路测试元件故障模型组合逻辑电路最小覆盖

一种产生组合逻辑电路最小完全检测集的算法

提出了一种产生组合逻辑电路最小完全检测集的算法，通过此算法可以得到组合逻辑电路中任意可测故障的测试及最小完全检测集。......

期刊

D算法检测D立方最小完全检测仪组织逻辑电路

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