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横向溢出漏相关论文
CCD抗晕结构的设计和制作
强光照射时,CCD图像传感器摄取的图像中会出现光晕(blooming)和弥散(smear)现象,严重影响成像质量。文章介绍了一种能够抑制这些光......
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抗晕能力
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强光照射
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