纳米阻抗显微镜(Nano—Impedance Microscopy，NIM)是一种新型的扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscopy，SPM)，能够测量材料的纳米......

基于扫描隧道显微镜的新型纳米阻抗显微镜（STM-NIM）能够测量材料表面的纳米微区阻抗性质并具有分辨率高的突出优点，但传统STM前置放大......