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缺陷荧光特性相关论文

热处理对Ni0.7Zn0.3O薄膜结构及缺陷荧光特性的影响

采用脉冲激光沉积法在Si（100）衬底上制备了Ni0.7Zn0.3O薄膜,通过热处理改变薄膜的缺陷状态,并利用X射线衍射仪、扫描电子显微镜和荧......

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Ni0.7Zn0.3O薄膜脉冲激光沉积缺陷荧光特性热处理 Ni0.7Zn0.3O thin films pulsed-laser deposition

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