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缺陷顺磁中心相关论文

MOS结构电子、质子辐照感生缺陷的EPR测量

利用电子顺磁共振(EPR)技术测量了(100)晶向硅衬底材料上制作的MOS电容在电子和质子辐照前后缺陷电子顺磁(EPR)吸收谱,对比了电子......

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MOS结构电离损伤 ERP 辐照感生缺陷电子质子电子顺磁共振测量缺陷顺磁中心 MOS structare irradiation defet EP

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