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正电子表征方法是研究固体材料、薄膜材料等微结构的有特色的手段之一。正电子进入材料之后会与原子、分子、离子等发生各种各样的......
用蒙特卡罗方法模拟计算了薄样品中的高能同轴背散射电子的背散射率和厚度衬度. 结果指出:用较大的探测能量窗口和大的探测角可在......
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将得到广泛应用的Everhart理论加以扩展以使其能包含利用低失能近轴背散射电子的扫描电子显微镜的3个可调参量:入射电子能量、能量......
