背景相关曲线相关硕士博士期刊学术论文 - 搜论网

背景相关曲线相关论文

地质样品X射线荧光分析中的背景相关曲线及其应用

采用粉末压片-X射线荧光法,测量了水系沉积物、土壤、岩石等国家一级标准物质.对用LiF(200)晶体在20.70°～48.00°衍射角(2......

期刊

地质样品 X射线荧光分析背景相关曲线 X-ray fluorescence spectrometry geological materials backgr

看过本文同时还关注