银离子迁移相关论文
忆阻器作为第四个基本无源电子元件引起了广泛关注,其结构简单、便于集成等优势在非易失性存储和突触仿生模拟等领域有很大的应用......
数据的稳定存储是光学信息处理过程的前提。近年来,负载小尺寸银纳米粒子的二氧化钛纳米复合薄膜作为一类重要的光致变色材料,因其......
本文主要介绍了厚膜银导体上银离子迁移的试验方法、考核条件,通过试验发现,在660V/mm直流电场强度下,通过更换基片材料和介质材料......
电子控制器元器件贴片化已经是目前十分普及的，但由于普通贴片电阻本体的结构问题，在恶劣的使用环境下会实效；其中银离子迁移导致电阻......
本文针对本公司的某型产品进行详细的故障分析,不断寻找产品故障的深层次原因,并排出其他原因。最终确定故障原因为银离子迁移,并......
文章对厚膜银导体银离子迁移试验的基本考核条件和试验方法进行了系统分析，由试验结果可知，在直流电场660V／mm的强度下，经过介质材料和......
文章通过对某电磁继电器不同引脚以及引脚与管壳之间绝缘下降进行失效分析,采用显微镜外部目检、扫描电镜检查和能谱分析等分析方......
【关键词】片状电阻 失效 硫化 银离子迁移 过载 1. 引言 片状电阻（ChipResistor）又称为贴片片阻，是多种类型电阻里面非常重要......
结合空调控温传感器的结构特点,分析了导致NTC热敏电阻短路失效的旁路并联电阻模型,通过样品解剖和能谱检测,证实了电极银离子迁移......
随着电子设备变得更小、更轻、更先进,使用环境更加恶劣,发生银离子迁移的几率也比以往更大。本文在详细介绍银离子迁移现象、机理......
论述了某光敏晶体管CE极之间漏电流变大的失效机理。通过对器件电性能测试、结构解剖、扫描电镜检查和能谱分析,证实了银离子迁移......
本文分2部分刊出,主要论述银镀层中银离子的迁移现象。在第1部分,通过SEM照片,论述了不同条件下所发生的银离子迁移的不同形态。研......
文章的第2部分论述了银镀层发生离子迁移的实验方法和检测方法。实验方法有环境实验法和溶液实验法;检测方法包括光学观察,绝缘电......
叙述了全钽全密封液体钽电解电容器的结构和特点，较之银外壳液体钽电解电容器，它克服了漏液、瞬时开路、电参数恶化与银离子迁移等缺......
<正> 5.酚醛纸基覆铜箔板制造技术的新发展 酚醛纸基覆铜箔板作为印制板的基材,主要用于电视机、录音机、收录机、音响设备、游戏......
薄膜开关导电油墨及其应用吴松山（二）四、银浆在使用中的工艺问题材料的品质优良只是为加工产品创造了良好的条件，不等于有了可靠的材......
