热激电流谱测试技术（TSC）是宽禁带半导体深能级缺陷非常有效的测试方法,能够精准获得缺陷类型,深度（E_（a,i））,浓度（N_i）以及俘获截面（σ_i）等......

分析了建立高氯酸铵-端羟基聚丁二烯（AP-HTPB）固体推进剂松弛模量主曲线的三种不同方法（Williams-Landel-Ferry（WLF）方法、Arrhenius方......